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Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials

Instrumentation, Data Analysis and Applications
Buch (broschiert)114.00 CHF
sofort lieferbar

Inhalt

Dieses Buch ist eine aktualisierte Einführung in die Anwendung der spektrometrischen Ellipsometrie mit ihrem praktischen Einsatz bei der Untersuchung von Grenzflächeneigenschaften, Elektronenstrukturen und Quasiteilcheneigenschaften verschiedener Klassen von Dünnschichtmaterialien.

Bibliografische Angaben

April 2022, 208 Seiten, Englisch
Wiley-VCH
978-3-527-34951-7

Inhaltsverzeichnis

Schlagworte

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