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Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials

Instrumentation, Data Analysis and Applications
Livre (broché)114.00 CHF
disponible

Contenu

Dieses Buch ist eine aktualisierte Einführung in die Anwendung der spektrometrischen Ellipsometrie mit ihrem praktischen Einsatz bei der Untersuchung von Grenzflächeneigenschaften, Elektronenstrukturen und Quasiteilcheneigenschaften verschiedener Klassen von Dünnschichtmaterialien.

Informations bibliographiques

avril 2022, 208 Pages, Anglais
Wiley-VCH
978-3-527-34951-7

Sommaire

Mots-clés

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