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Advanced Materials Characterization

Basic Principles, Novel Applications, and Future Directions

Contenu

The book covers various methods of characterization of advanced materials commonly used in engineering including understanding of the working principle and applicability of devices. Major instruments covered include X-Ray Diffraction, NSOM Raman, X-Ray Photo Spectroscopy, UV-VIS- NIR Spectrosphotometer, FTIR Spectroscopy, and so forth.

Informations bibliographiques

mai 2023, 130 Pages, Advanced Materials Processing and Manufacturing, Anglais
Taylor and Francis
978-1-03-237510-6

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