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X-Ray Scattering Techniques for Epitaxial Oxide Thin Films
X-Ray Scattering Techniques for Epitaxial Oxide Thin Films
Herausgegeben von:
Sando, Daniel
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Evans, Paul G.
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Valanoor, Nagarajan
Buch (gebunden)
ca. 116.00 CHF
erscheint im September
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Bibliografische Angaben
September 2025
,
ca. 186 Seiten
,
Englisch
Springer EN
978-981-9659-44-9
Schlagworte
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