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System-on-Chip Test Architectures: Volume

System-on-Chip Test Architectures: Volume

Nanometer Design for Testability
Buch (gebunden)108.00 CHF
lieferbar in ca. 10-20 Arbeitstagen

Inhalt

Written by a stellar team of field experts, this title is a comprehensive guide to new VLSI Testing and Design-for-Testability techniques that allow VSLI designers, DFT practitioners, and students to master quickly System-on-Chip Test architectures, memory, and analog/mixed-signal designs.

Bibliografische Angaben

Januar 2008, Systems on Silicon, Englisch
Elsevier
978-0-12-373973-5

Inhaltsverzeichnis

Schlagworte

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