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Active Probe Atomic Force Microscopy

Active Probe Atomic Force Microscopy

A Practical Guide on Precision Instrumentation
Livre (broché)env. 89.00 CHF
disponible dès février 2025

Informations bibliographiques

février 2025, env. 366 Pages, Anglais
Springer International Publishing
978-3-031-44235-3

Mots-clés

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